25.03.2015 15:28 Uhr, Quelle: Heise

MIT entwickelt neues System, um Integer-Überläufe aufzuspüren

Das auf einer Fachkonferenz vorgestellte DIODE soll in der Lage sein, Eingabewerte zu generieren, die Input-Kontrollen passieren und trotzdem intern Überläufe auslösen. Das System kann so helfen, potenzielle Schwachstellen zu finden.

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