06.04.2009 14:05 Uhr, Quelle: golem

Nahfeldscanner gegen Störungen auf Platinen

Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme (ENAS) in Paderborn hat einen neuen Scanner für Elektronik entwickelt, mit dem sich die Strahlung von einzelnen Bauteilen sichtbar machen lässt. Das soll die Entwicklung vereinfachen und im zweiten Schritt auch Chipkarten sicherer machen. (RFID, Technologie)

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