18.09.2007 20:05 Uhr, Quelle: ComputerBase

IDF: Intel zeigt den ersten 32-nm-Wafer

Intel CEO Paul Otellini präsentiert auf dem derzeit in San Francisco Intel Developer Forum den ersten 300 mm Wafer der mit in 32 nm (Nanometer) Testchips bestückt ist. Jeder einzelne dieser Chips bringt es auf insgesamt 1,9 Milliarden Transistoren.

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