21.11.2008 09:35 Uhr, Quelle: ZDNet Deutschland

Fraunhofer-Institut warnt vor Zero-Day-Lücke im iPhone

Das Fraunhofer-Institut für Sichere Informationstechnologie (SIT) in Darmstadt hat nach eigenen Angaben eine Zero-Day-Lücke im iPhone entdeckt, die zum Anwählen beliebiger Telefonanschlüsse missbraucht werden kann. Über einen Link zu einer manipulierten Website kann ein Angreifer die Steuerung des Apple-Smartphones übernehmen und einen Wählvorgang auslösen, der vom Anwender nicht abgebrochen werden kann.

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